韋氏納米系統(tǒng)（深圳）有限公司
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詳細(xì)摘要： 橢偏儀是一種利用偏振態(tài)的變化 后光束探測樣品反應(yīng)技術(shù)。不像反射儀，橢偏儀參數(shù)（PSI和Del）是在非正常的入射角得到。改變?nèi)肷浣?。可以得到更多的?shù)據(jù)集，這將有助...
產(chǎn)品型號：SE系列所在地：深圳市更新時(shí)間：2018-10-22 在線留言
詳細(xì)摘要： 薄膜應(yīng)力測量：在硅片等基板上附膜時(shí)，由于基板和薄膜的物理定數(shù)有異，產(chǎn)生應(yīng)力，進(jìn)而引起基板變形。由涂抹均勻的薄膜引起的變形的表現(xiàn)為基板的翹曲，而薄膜應(yīng)力測量裝置F...
產(chǎn)品型號：Toho FLX所在地：深圳市更新時(shí)間：2018-10-22 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
拉拔剪切試驗(yàn)機(jī) 拉力試驗(yàn)機(jī)
QJ210A ￥30000
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